复杂芯片测试,让多 ADE 协同推进
某 DPU 芯片研发企业需要面对多操作系统、CPU、服务器、驱动及固件组合带来的高复杂度测试任务。
芯片研发 · DPU测试- 测试用例设计与编写效率提升
- 3–5倍
- 无效回归与人工排队下降
- 60%+
- 夜间失败阻塞等待下降
- 70%+
客户挑战
测试用例设计、执行调度、异常归类和日志定位依赖大量人工;回归矩阵大、夜间阻塞多,工程师容易被重复性工作占用。
织灵如何参与
- 项目知识体系汇集规格、历史用例、问题记录与多源日志,供任务引用
- 测试 ADE 辅助用例设计、脚本生成、回归调度及失败聚类
- 研发 ADE 参与异常定位与问题复现,典型经验回流供后续复用








